Statistische Mustererkennung und wissensbasierte Bildanalyse
- Typ: Vorlesung (V)
- Lehrstuhl: KIT-Fakultäten - KIT-Fakultät für Bauingenieur-, Geo- und Umweltwissenschaften
- Semester: SS 2022
-
Zeit:
Mi 15.06.2022
09:45 - 11:15, wöchentlich
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 15.06.2022
11:30 - 13:00, wöchentlich
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 22.06.2022
09:45 - 11:15, wöchentlich
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 22.06.2022
11:30 - 13:00, wöchentlich
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 29.06.2022
09:45 - 11:15, wöchentlich
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 29.06.2022
11:30 - 13:00, wöchentlich
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 06.07.2022
09:45 - 11:15, wöchentlich
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 06.07.2022
11:30 - 13:00, wöchentlich
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 13.07.2022
09:45 - 11:15, wöchentlich
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 13.07.2022
11:30 - 13:00, wöchentlich
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 20.07.2022
09:45 - 11:15, wöchentlich
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 20.07.2022
11:30 - 13:00, wöchentlich
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 27.07.2022
09:45 - 11:15, wöchentlich
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
Mi 27.07.2022
11:30 - 13:00, wöchentlich
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
- Dozent: Prof. Dr.-Ing. Stefan Hinz
- SWS: 2
- LVNr.: 6043201
- Hinweis: Präsenz
Links
| Organisatorisches | 2. Semesterhälfte |